亚洲熟妇av综合网五月 I 久久黄色a级片 I 正在播放国产对白孕妇作爱 I 成人涩涩小片视频日本 I 美女被羞羞va888v I 白丝一区 I 亚洲а∨天堂久久精品 I 欧美又粗又大aaa片 I 国产福利91 I 日韩欧美在线一区二区 I 国产作爱激烈叫床视频 I 欧美爱爱视频免费看 I 国产手机av I 天天摸天天 I 扒开双腿给我看个够 I 一区二区三区四区在线观看国产日韩 I 毛片久久久久久久 I 在线观看91精品视频 I 狠狠色亚洲 I 五月天天爽天天狠久久久综合 I 亚洲国产成人91porn I 国产免费极品av吧在线观看 I 中国女人内谢69无套 I 三人性视频直播 I 国产精久久一区二区三区 I 制服诱惑影音先锋 I 米奇av I 午夜极品视频 I 国产日产欧产美韩毛毛片 I 日韩三四区 I av黄色av网站 I 久久国产福利播放 I 日本不卡高清一区二区三区 I jizz日18 I 国产精品中文字幕在线 I 亚洲欧美在线另类 I 麻豆一区在线观看 I 肉大捧一进一出免费视频 I 福利姬在线观看 I 国产主播av I av狠狠爱 I 在线视频观看免费视频18 I 精品国精品国产 I 一级黄色片免费在线观看 I 亚洲色欲色欲综合网站sw0060 I 欧美黄色一区 I 爱爱综合 I 免费一级性生活 I 亚洲精品人妻无码 I 亚洲第一黄 I 插美女综合网 I 免费成人在线观看 I 风骚的少妇 I 韩国一级片黄色片 I 欧洲毛片在线 I 自拍偷拍欧美视频 I 91色九色 I 男女啊啊啊视频 I 国产又黄又硬又粗 I 免费一级视频在线观看 I 在线视频这里只有精品 I 黄网视频在线看 I 国产色噜噜

The device is designed for express non-destructive contactless local measurement of non-equilibrium charge carrier effective lifetime in silicon substrates, epi-wafers and solar cells at different stages of manufacturing cycle. It can be used for incoming and outcoming inspection of silicon ingots and wafers, tuning and periodic inspection of semiconductor and solar cell technology quality. Lifetime determination is based on measuring photoconductivity decay after pulselight photo-exciting with usage of reflected microwave as a probe.

■ No length restrictions for the silicon block
■ The system provides fast, non-contact measurements.
■ Automatic, Transmission system,continuous measurement
■ Simple, easy to cut head and tail
■ Cut position determination with given limit values
■ High cost-effective

■ Minority carrier lifetime test range:0.1μs-30ms
■ Scanning speed:2000mm/min
■ Size:215mm*215mm*500mm
■ Resistivity range:0.1-1000ohm.cm
■ Silicon block scanning pitch spacing：≥1mm
■ Accuracy：±3.5％，Signal Deviation≤2％